4200-SCS是一款能进行器件、材料或过程电气特性分析的模块化全集成参数分析仪。利用9个测量槽和内置低噪声接地单元,您可以根据测试要求或预算限制进行精密配置。
直流I-V测量是器件和材料测试的基础。4200-SCS源测量单元(SMU)是高精度源电流或电压以及同步测量电流和电压的精密仪器。4200-SCS提供的宽范围I-V测量包括:亚ρA漏电测量、μΩ电阻测量。
210V/100mA,0.1 fA 分辨率
适用于两端器件和三端器件、MOSFET、CMOS 检定
软件包 4200-SCS-PK1 包括:
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210V/100mA,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz
对于高 K 电介质,为深度亚微米 CMOS 检定
软件包 4200-SCS-PK2 包括:
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210V/1A,0.1 fA 分辨率,1kHz - 10MHz
对于功率器件、高 K 电介质,为深度亚微米 CMOS 器件检定
软件包 4200-SCS-PK3 包括:
地址:北京市海淀区清河西三旗环岛东南院502室
电话:13911997010 / 15801319785 传真:010-67867537